menu

電子顕微鏡室 利用負担金(学外利用者)

学外利用者とは学術研究機関所属の方を指します。
非学術研究機関所属の方で解析をご希望の場合は別途お問い合わせください。

電顕室利用に当たり、利用者の方々に施設利用料+利用料をご負担していただいております

利用負担金表(PDF)

施設利用料   

施設利用料は1依頼(依頼番号取得)毎に ¥3,000 をお支払いください

利用料(サンプル作製および電子顕微鏡観察料金)

  1. サンプル作製1回は、基本的にサンプル5種類(5チューブ)を1単位とします
    また、チャンバースライドの場合はスライド1枚(サンプル8種類)を1単位とします
    詳細に関しましては、面談時にご説明させていただきます
  2. 準超薄切片作製および超薄切片作製をご自身でされる場合は薄切の料金は発生しません
    ウルトラミクロトームは自由にご利用ください
    但し、超薄切片作製に使用するダイヤモンドナイフはご自身所有の物をご利用ください
    準超薄切片作製に使用するガラスナイフは電顕室にあるものをご自由にお使いいただけます

学外研究者への請求方法

  1. 本学からの請求書の送付先を登録する必要がありますので、入金元登録依頼書に必要事項を全てご記入の上、ご提出ください
  2. 請求書は年3回(9月および2月および3月)、京都大学経理掛より郵送で送付させていただいております
透過型電子顕微鏡(TEM)用サンプル作製料金
工程内容 単位 単価
オスミウム固定→脱水→エポン樹脂包埋→熱重合 1回 ¥16,500
準超薄切片作製 1断面 ¥2,000
超薄切片作製 (通常:150グリッド2枚の場合) 1断面 ¥4,000
超薄切片作製 (特注:単孔グリッド1枚の場合) 1断面 ¥4,800
超薄切片作製単孔グリッドの追加(特注:2枚目以降) グリッド1枚 ¥1,100
透過型電子顕微鏡(TEM)用特殊サンプル作製料金
工程内容 単位 単価
ネガティブ染色代行(親水化処理→ウラン染色) グリッド1枚 ¥4,700
走査型電子顕微鏡(SEM)用サンプル作製料金
工程内容 単位 単価
オスミウム固定→脱水→ t – ブチルアルコール置換→ t – ブチルアルコール凍結乾燥→台載せ→金属コーティング 1回 ¥13,100
 t – ブチルアルコール凍結乾燥→台載せ→金属コーティング 試料台1個 ¥3,200
金属コーティング(白金・カーボン・オスミウム) 試料台1個 ¥1,600
観察料金(TEMおよびSEM)
工程内容 単位 単価
透過型電子顕微鏡(TEM)および走査型電子顕微鏡(SEM)
(午前枠:9:30AM~12:30PM、午後枠:13:30PM~16:30PM)
1回(3時間) ¥6,500
SEMアレイトモグラフィー法サンプル作製料金
工程内容 単位 単価
オスミウム固定→脱水→エポン樹脂包埋→熱重合 1回 ¥16,500
シリコン基板の利用 1枚 ¥6,900
連続超薄切片作製(超薄切片100枚毎) 1回 ¥33,000
電子染色(ウランおよび鉛染色) 1回 ¥800
SEM広視野連続(パノラマ)観察法サンプル作製料金
工程内容 単位 単価
オスミウム固定→脱水→エポン樹脂包埋→熱重合 1回 ¥16,500
シリコン基板の利用 1/3枚 ¥2,300
超薄切片作製 1断面 ¥3,900
電子染色(ウランおよび鉛染色) 1回 ¥800
SEMアレイトモグラフィー法・SEM広視野連続(パノラマ)観察法装置使用料
工程内容 単位 単価
SEMアレイトモグラフィー法撮影条件の設定(超薄切片100枚毎) 1回 ¥33,000
SEM広視野連続(パノラマ)観察法撮影条件の設定 1サンプル ¥3,600
SEM撮影 1時間 ¥2,500
集束イオンビーム走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)サンプル作製料金
工程内容 単位 単価
オスミウム固定→Block Stain→脱水→エポン樹脂包埋→熱重合 1回 ¥16,600
FIB-SEM台載せまで(準超薄切片作製→ウルトラトリムを用いてのトリミング→stubへの台載せ→銀ペースト→白金コーティング) 試料台1個 ¥21,300
集束イオンビーム走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)装置使用料
工程内容 単位 単価
serial section開始前の下準備(DEPO・Polish・Milling)を含む 1時間 ¥7,100
画像解析ソフト関連
工程内容 単位 単価
ソフト使用料(24時間単位で1回とする) 1回 ¥1,300
解析サポート(内容に関しては要個別相談) 1時間 ¥8,000