電子顕微鏡室　利用負担金

電顕室利用に当たり、利用者の方々に登録料＋利用料をご負担していただいております

利用負担金表（PDF）

登録料   

令和6年(2024年)度　¥80,000／年間 （登録料は、年度により変更する場合があります）

1. 登録料は、利用申請期間が年度を跨ぐ関係から、基本的には運営交付金でお支払いください
   運営交付金以外での経費でお支払いを希望される場合は、各研究科の財源担当者にご連絡いただき
   「年度を跨いで使用してもよい経費であること」をご確認後、財源を決定してください
2. 研究室単位での支払いになります
3. 研究室内の利用人数に制限はありません
4. 透過型電子顕微鏡（TEM）、走査型電子顕微鏡（SEM）および集束イオンビーム走査型電子顕微鏡（FIB-SEM）を利用できます
5. 登録料の清算は当該年度内に一度（9月もしくは2月もしくは4月）行っております
   （但し、2月1日から3月31日まで依頼分の支払経費は原則として、運営費のみとさせていただきますので、ご了承ください）

『お試し利用』制度のご案内（学内限定）

電子顕微鏡解析を一度試してみたい！という利用者向けに、『お試し利用』制度を設けました
『お試し利用』制度に関する詳細は下記の通りです

1. お試し利用は利用者お一人につき1回のみとなります（同一グループ内での複数人のご利用はご遠慮ください）
2. お試し利用では、ご希望の1解析を行っていただくことが可能です
3. お試し利用の1解析は、登録料（¥80,000／年間）は発生せず、利用料のみの請求となります
4. 2回目以降の解析を希望される場合は、登録料を請求させていただきます
5. 『お試し利用』を希望される方は、お問い合わせ時もしくは面談時にその旨を電子顕微鏡室スタッフにお伝えください

利用料（サンプル作製および電子顕微鏡観察料金）

1. 利用料は運営交付金・科学研究費・奨学寄附金・受託研究費・委任経理金などのいずれの経費でも支払可能です
2. サンプル作製1回は、基本的にサンプル5種類（5チューブ）を1単位とします
   また、チャンバースライドの場合はスライド1枚（サンプル8種類）を1単位とします
   詳細に関しましては、面談時にご説明させていただきます
3. 準超薄切片作製および超薄切片作製をご自身でされる場合は薄切の料金は発生しません
   ウルトラミクロトームは自由にご利用ください
   但し、超薄切片作製に使用するダイヤモンドナイフはご自身所有の物をご利用ください
   準超薄切片作製に使用するガラスナイフは電顕室にあるものをご自由にお使いいただけます
4. 利用料の清算は年3回（9月および2月および4月）行っております
   （但し、2月1日から3月31日まで依頼分の支払経費は原則として、運営費のみとさせていただきますので、ご了承ください）

透過型電子顕微鏡（TEM）用サンプル作製料金

透過型電子顕微鏡（TEM）用特殊サンプル作製料金

走査型電子顕微鏡（SEM）用サンプル作製料金

観察料金（TEMおよびSEM）

SEMアレイトモグラフィー法サンプル作製料金

SEM広視野連続（パノラマ）観察法サンプル作製料金

SEMアレイトモグラフィー法・SEM広視野連続（パノラマ）観察法装置使用料

集束イオンビーム走査型電子顕微鏡（FIB-SEM）サンプル作製料金

集束イオンビーム走査型電子顕微鏡（FIB-SEM）装置使用料

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